仪器名目

品牌：日本MORITEX   型号：日本精工    仪器置于生科院3号楼A302

一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它主要由带针尖的微悬臂、微悬臂运动检测装置、监控其运动的反馈回路、使样品进行扫描的压电陶瓷扫描器件、计算机控制的图像采集、显示及处理系统组成。微悬臂运动可用如隧道电流检测等电学方法或光束偏转法、干涉法等光学方法检测，当针尖与样品充分接近相互之间存在短程相互斥力时，检测该斥力可获得表面原子级分辨图像，一般情况下分辨率也在纳米级水平。AFM测量对样品无特殊要求，不需要对样品进行特殊处理，仅在大气环境下就可测量固体表面、吸附体系等，得到三维表面粗造度等信息。

技术参数：

扫描范围：XY：20μm，Z：2μm（可扩展：XY最大150μm，Z最大15μm）；

形貌分辨能力 XY：0.2nm, Z： 0.01nm（可实现原子级分辨）；

样品最大尺寸为：φ35mm×10mm (H)。